ict上IC的测试

日期:2020-08-08 23:24
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摘要:

ICT上IC的测试:
1
开短路测试法

  测试IC各脚的开短路来测试我出不佳

2,保护二极体测试法

  每个IC都对地和电源有一个反向二极体,通过测试此反向二极体来测试IC的缺件,空焊,反插等不佳现像

3,HP TESTJET量测法(ivetp)

HP TestJetTechnology 是量测感測应器与IC 脚框之间的电容量来偵测IC 接脚的空焊。

1) 由于采用ReedRelay ScannerBoardGuarding 能力强,因此测试效果好。

 

2) 由于干扰处理能力强,因此对SMD

    Type Connector的量测相当可靠

3) 其对IC的可测率达到95%以上

4 ISSCAN功能测试

 此技术是我公司砖利技术,测试并聊IC的开短.

5功能测试还支持

 1)稳压管的稳压值测试

 2)LED的测试

 3)电机马达的测试
ict上IC的测试

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