ICT测试出来的不佳维修

日期:2020-09-21 03:52
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摘要: 1.ICT不佳的类型主要有以下几种(以HIBEX MERCURY型ICT为例): ·SHORT FAIL 短路不佳,本应该短路的,实质上开路 ·OPEN FAIL 开路不佳,本应该开路的,实质上短路 ·HIGA FAIL 测试值远远的高于设定值的误差范围 ·LOW FAIL 测试值远远的低于设定值的误差范围 ·FAIL MODE 被测试的元器件与测试程序里预先设置的类型不相同 ·NC FAIL 被测试的元器件没有放进测试程序中 ·POL FAIL 被测试的元器件的极性(电容除外)插反 ·OPEN FAIL NODE 在两个或两个以上的测试针短路,本来...
 1.ICT不佳的类型主要有以下几种(以HIBEX MERCURYICT为例):

·SHORT FAIL 短路不佳,本应该短路的,实质上开路

·OPEN FAIL 开路不佳,本应该开路的,实质上短路

·HIGA FAIL 测试值远远的高于设定值的误差范围

·LOW FAIL 测试值远远的低于设定值的误差范围

·FAIL MODE 被测试的元器件与测试程序里预先设置的类型不相同

·NC FAIL 被测试的元器件没有放进测试程序中

·POL FAIL 被测试的元器件的极性(电容除外)插反

·OPEN FAIL NODE 在两个或两个以上的测试针短路,本来应该是开路的

·SHORT FAIL NODE 在两个或两个以上的测试PIN开路,本来应该是短路的

 

2.总体来说,ICT不佳的维修,基本上都是从以下几点进行:

·部品本身有误配或不佳的情况发生

·ICT PINBOARD本身针点上有异物

·ICT PINBOARD 本身有针不佳

·PCB上的测试点无焊锡

·PCB上的测试点有异物

·PCB上的测试仪点光泽度看上去比较差,表面测试点上松香过多

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